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1、射线照相检验,利用射线(X射线、γ射线和中子射线)在介质中传播时的衰减特性,当将强度均匀的射线从被检件的一面注入其中。
2、磁粉检测,由于缺陷与基体材料的磁特性(磁阻)不同穿过基体的磁力线在缺陷处将产生弯曲并可能逸出基体表面,形成漏磁场。
3、涡流检测,将交变磁场靠近导体(被检件)时,由于电磁感应在导体中将感生出密闭的环状电流,此即涡流。
4、渗透检测,利用毛细管现象和渗透液对缺陷内壁的浸润作用,使渗透液进入缺陷中,将多余的渗透液出去后,残留缺陷内的渗透液能吸附显像剂从而形成对比度更高、尺寸放大的缺陷显像。仅供参考。
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